67-74

УДК 621.371: 537.86
DOI: 10.25686/2306-2819.2019.4.67

ОЦЕНКА ЁМКОСТИ ПЛОСКОГО КОНДЕНСАТОРА С УЧЁТОМ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ ЭЛЕКТРОДОВ

Ю. К. Евдокимов, Л. Ю. Фадеева, Р. К. Сагдиев, Б. М. Валеев
Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н. Туполева – КАИ,
Российская Федерация, 420111, Казань, ул. К. Маркса, 10
E-mail: evdokimov1@mail.ru

АННОТАЦИЯ

Рассмотрено влияние шероховатости электродов на величину ёмкости плоского конденсатора. Роль шероховатости существенно возрастает с уменьшением межэлектродного расстояния, соизмеримого с масштабом неоднородностей поверхности. Предложено соотношение для количественной оценки ёмкости с учётом шероховатости. Приведены результаты экспериментальных измерений ёмкости конденсатора с шероховатыми пластинами при различных уровнях чистоты обработки поверхности.

КЛЮЧЕВЫЕ СЛОВА

ёмкость плоского конденсатора; шероховатость электрода; поверхность; фрактальная размерность.

ПОЛНЫЙ ТЕКСТ (pdf)

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

1. Исследование микрорельефа обработанных поверхностей с помощью методов фрактальных сигнатур / А.А. Потапов, В.В. Булавкин, В.А. Герман и др. // Журнал технической физики. 2005. Т. 75, Вып. 5. С. 28-45.
2. Шишкин Е.И. Моделирование и анализ пространственных и временных фрактальных объектов. Екатеринбург: Урал. гос. ун-т, 2004. 88 с.
3. Будаев В.П., Химченко Л.Н. Фрактальная нано- и микроструктура осажденных пленок в термоядерных установках // Вопросы атомной науки и техники. Сер. Термоядерный синтез. 2008. Вып. 3. С. 34 - 61.
4. Определение фрактальной размерности поверхности эпитаксиального n-GaAs в локальном пределе / Н.А. Торхов, В. Г. Божков, И.В. Ивонин и др. // Физика и техника полупроводников. 2009. Т. 43, Вып. 1. С. 38-47.
5. Евдокимов Ю.К. Распределенные измерительные среды и континуум-измерения: топология, алгоритмы и моделирование // Нелинейный мир. 2007. № 10–11. C. 639–656.
6. Брылкин Ю.В. Сравнительный анализ поверхностей покрытий из нитрида титана, полученных путем магнетронного распыления и плазмохимическим способом // Космонавтика и ракетостроение. 2015. № 4 (83). С. 99-104.
7. Евдокимов Ю.К., Сагдиев Р.К., Фадеева Л.Ю. Высокоточные измерения положения механической руки робота в субмикронных и наномикронных перемещениях с использованием емкостного датчика // Использование цифровых средств обучения и робототехники в общем и профессиональном образовании: опыт, проблемы, перспективы: сборник научных статей III Международной научно-практической конференции. Барнаул, 2-3 ноября 2017 г. Барнаул: Изд-во Алтайского универсиета, 2017. С. 52-54.
8. Евдокимов Ю.К., Сагдиев Р.К., Фадеева Л.Ю. Характеристика преобразования емкостного датчика субмикронных и наноразмерных перемещений с учетом шероховатости поверхности электродов // Проблемы получения, обработки и передачи измерительной информации: I Международная научно-техническая конференция. Уфа: Изд-во УГАТУ, 2017. С. 102 – 104.

Для цитирования: Евдокимов Ю. К., Фадеева Л. Ю., Сагдиев Р. К., Валеев Б. М. Оценка ёмкости плоского конденсатора с учётом шероховатости поверхности электродов // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. 2019. № 4 (44). С. 67-74. DOI: 10.25686/2306-2819.2019.4.67